磁控濺射物理氣相沉積PVD系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
磁控濺射物理氣相沉積PVD系統(tǒng)是多功能高壓PVD系統(tǒng),用于磁控濺射和多組分薄膜的熱蒸發(fā)，用于批量晶圓物理氣相沉積加工.
磁控濺射系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
磁控濺射系統(tǒng)MagSput™是下一代磁控濺射沉積系統(tǒng)，實(shí)用性腔,可擴(kuò)展性高,且高度可靠,feichang適合磁控濺射鍍膜科學(xué)研究。
三腔室分子束外延系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
三腔室分子束外延系統(tǒng)是帶有三個(gè)MBE分子束外延生長(zhǎng)腔室的異質(zhì)結(jié)材料MBE生長(zhǎng)設(shè)備,可用于在高達(dá)?100mm的襯底上以及三個(gè)2英寸以上襯底上一次精確生長(zhǎng)外延層,獲...
光誘導(dǎo)力顯微鏡和納米紅外光譜系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
光誘導(dǎo)力顯微鏡和納米紅外光譜系統(tǒng)采用納米紅外化學(xué)分析的光致力顯微納米紅外光譜技術(shù),制作納米級(jí)化學(xué)mapping映射繪圖和紅外點(diǎn)光譜,獲得比FTIR或納米FTIR...
光纖色散測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
光纖色散測(cè)試儀CD500是為光纖色散測(cè)量設(shè)計(jì)的色散測(cè)量系統(tǒng),具有測(cè)量PMD單模光纖中偏振色散功能,非常適光纖和光纜生產(chǎn)檢測(cè)。
光學(xué)表面測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
光學(xué)表面測(cè)試儀是為光學(xué)表面平整度測(cè)試設(shè)計(jì)的平整度測(cè)量?jī)x,采用Shack-Hartmann波前傳感器技術(shù),激光束從被測(cè)光學(xué)表面反射后,進(jìn)入Shack-Hartma...
3D光學(xué)輪廓儀 參考價(jià)：面議
3D光學(xué)輪廓儀是具有白光干涉和相移干涉技術(shù)的表面形貌儀,具有高掃描速度,垂直分辨率高達(dá)亞納米0.1nm,從而具有三維臺(tái)階儀功能。
三維表面形貌儀 參考價(jià)：面議
這款三維表面形貌儀是德國(guó)進(jìn)口的高精度多功能表面輪廓測(cè)量?jī)x器，也是一款光學(xué)表面形貌儀,非常適合對(duì)表面幾何形狀和表面紋理分析，以標(biāo)準(zhǔn)方案或定制性方案對(duì)二維形貌或三維...
三維表面輪廓儀 參考價(jià)：面議
這款三維表面輪廓儀是德國(guó)進(jìn)口的高精度多功能表面輪廓測(cè)量?jī)x器，也是一款光學(xué)輪廓儀,非常適合對(duì)表面幾何形狀和表面紋理分析，以標(biāo)準(zhǔn)方案或定制性方案對(duì)2D輪廓或三維輪廓...
光伏太陽(yáng)能光譜橢偏儀 參考價(jià)：面議
這款光伏太陽(yáng)能光譜橢偏儀是專(zhuān)業(yè)為光伏太陽(yáng)能領(lǐng)域的薄膜測(cè)量而開(kāi)的手動(dòng)光伏橢偏儀，這款為光伏薄膜測(cè)量研究提供便利，具有實(shí)時(shí)測(cè)量薄膜厚度和薄膜厚度繪圖的*功能。它采用...
大型光譜橢偏儀 參考價(jià)：面議
大型光譜橢偏儀SE200BM-M450具有450mm直徑樣品臺(tái)，提供更為安全的樣品操作和定位，具有250-850nm的波長(zhǎng)范圍，是美國(guó)Angstrom公司為大尺...
反射式光譜橢偏儀 參考價(jià)：面議
這款反射式光譜橢偏儀MSP具有250-1000nm的波長(zhǎng)范圍，可與顯微分光光度計(jì)聯(lián)合使用，測(cè)量極小斑點(diǎn)的薄膜厚度和折射率，可廣泛用于MEMS，半導(dǎo)體晶圓等領(lǐng)域,...
自動(dòng)光譜橢偏儀 參考價(jià)：面議
這款自動(dòng)光譜橢偏儀M300是一種自動(dòng)變角光譜橢偏儀和深紫外光譜橢偏儀,具有250-1100nm的波長(zhǎng)范圍，并具有自動(dòng)改變?nèi)肷浣堑墓δ?。自?dòng)spectroscop...
表面平整度測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
哈特曼測(cè)量?jī)xHartmannometer是為測(cè)量光學(xué)表面平整度設(shè)計(jì)的哈特曼分析計(jì)量?jī)x器,是用方法和工作原理與菲索干涉儀 （Fizeau interferomet...
多功能翹曲度測(cè)定儀 參考價(jià)：面議
多功能翹曲度測(cè)定儀是一款多參數(shù)翹曲度測(cè)試儀器,可以測(cè)量PCB,IC等翹曲度,應(yīng)變等參數(shù),更可以檢測(cè)隨溫度變化的翹曲度值。
單點(diǎn)硅片測(cè)厚儀 參考價(jià)：面議
單點(diǎn)硅片測(cè)厚儀MX30是采用單點(diǎn)測(cè)厚技術(shù)為硅晶圓厚度測(cè)量設(shè)計(jì)的硅晶圓測(cè)厚儀器。適合手動(dòng)測(cè)量單點(diǎn)的晶圓厚度。
晶圓翹曲度厚度測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
晶圓翹曲度厚度測(cè)試儀是專(zhuān)業(yè)為晶圓翹曲度測(cè)量和晶圓厚度測(cè)量設(shè)計(jì)的晶圓厚度翹曲度測(cè)量?jī)x器。
進(jìn)口光學(xué)薄膜測(cè)厚儀 參考價(jià)：面議
薄膜測(cè)厚儀TohoSpec 3100是高精度薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng),采用小光斑光譜反射計(jì)獲得薄膜厚度信息,可靠的固態(tài)線性二極管陣列可快速、精確地測(cè)量單層薄膜，如氧化物...
鏡片透光率測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
鏡片透光率測(cè)試儀是一款眼鏡鏡片透光率測(cè)量?jī)x器,廣泛用于薄膜透光率測(cè)試,比如LED擴(kuò)散板透光率測(cè)試,鏡頭透光率測(cè)試,玻璃透過(guò)率測(cè)試,隔熱紙材料透過(guò)率測(cè)試。
薄膜厚度繪圖儀 參考價(jià)：面議
薄膜厚度繪圖儀采用光譜反射儀技術(shù)測(cè)量整個(gè)樣品薄膜面積的薄膜厚度和薄膜折射率等參數(shù)，對(duì)整個(gè)面積上的薄膜厚度繪圖獲得整面薄膜厚度分布和薄膜厚度均勻性參數(shù)。
便攜式薄膜測(cè)厚儀 參考價(jià)：面議
這款便攜式薄膜測(cè)厚儀是便攜式光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x,用于透明或半透明單層薄膜或膜系的薄膜厚度測(cè)量,薄膜吸收率測(cè)量,薄膜透過(guò)率測(cè)量,薄膜反射率測(cè)量,薄膜熒光測(cè)量等，這...
自動(dòng)橢圓偏振光譜儀 參考價(jià)：面議
自動(dòng)橢圓偏振光譜儀M300是一種自動(dòng)變角光譜橢偏儀和深紫外光譜橢偏儀,具有250-1100nm的波長(zhǎng)范圍，并具有自動(dòng)改變?nèi)肷浣堑墓δ堋?
橢圓偏振顯微分光光度計(jì) 參考價(jià)：面議
橢圓偏振顯微分光光度計(jì)MSP集合橢圓偏振光譜儀和顯微光度計(jì)功能,適合250-1000nm薄膜膜厚測(cè)量,可測(cè)量極小斑點(diǎn)的薄膜厚度和折射率,非常適合用于MEMS，半...
光伏光譜橢偏儀 參考價(jià)：面議
光伏光譜橢偏儀是專(zhuān)業(yè)為光伏太陽(yáng)能領(lǐng)域薄膜測(cè)量而開(kāi)的太陽(yáng)能薄膜橢偏儀,為光伏薄膜厚度測(cè)量研究提供便利，具有實(shí)時(shí)原位測(cè)量光伏薄膜厚度和太陽(yáng)能薄膜厚度繪圖的功能,通過(guò)...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
會(huì)員.png)
10